在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中，對渦流法涂層測厚儀的標準、操作步驟和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡述。訪問國家標準欄目，也許能找到您需要的國家標準。其中有關(guān)影響測量精度因素的條款，應(yīng)視作渦流涂鍍層測厚儀開發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件，這些影響渦流涂層測厚儀精度的因素包括：

1、覆蓋層厚度大于25μm時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。這就是很多渦流法涂層測厚儀的測量范圍不會很大的原因。大家可以想象涂層厚度和渦流強弱的函數(shù)關(guān)系一定是在一個合理的范圍之內(nèi)，超出這個范圍，函數(shù)關(guān)系就差得遠了，測量誤差也會大到普遍接受的范圍。
2、基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。這是顯然的，同一個測厚儀側(cè)頭對不同金屬材料所產(chǎn)生的渦流強度是不同的，如果要想獲得更準確的測量結(jié)果，可以對同一種材料的測量進行校準比對。
3、涂層測厚儀測量的基體金屬應(yīng)有一個最小厚度，只有大于這個厚度，測量才不會受基體金屬厚度的影響。這點在實際應(yīng)用過程中往往會被忽略，無論是使用方還是銷售方都把主要目光放在了測量范圍和測量精度，有時我們對測量結(jié)果不滿意往往會將原因歸為測厚儀質(zhì)量或檔次不夠。
4、渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應(yīng)，即對靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的。測厚儀測頭在測量到邊緣部分的時候，測頭產(chǎn)生的能量會有一部分的損失，如此可以推斷在測量到被測物體邊緣時，測量的厚度值會比實際偏大。
5、試樣的曲率對測量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精度，粗糙程度增加，影響增大。這個影響會很大，因為粗糙度大使得測厚儀測頭與基體之間多出一些空氣部分，這部分會嚴重干擾渦流的效果，使得測量值偏大。
7、渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測量前應(yīng)清除測頭和覆蓋層表面的污物，測量時應(yīng)使涂層測厚儀測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。這個的原因其實和上一條有相似之處。

以上各項要點，既嚴格規(guī)范了顧客實施測厚全過程的工作質(zhì)量，又為生產(chǎn)廠商提供了儀器開發(fā)必須遵循的設(shè)計依據(jù)，因而有力地促進了渦流測厚技術(shù)的總體發(fā)展。涂層測厚儀是一個精密儀器，無論是生產(chǎn)還是使用都要做好相關(guān)的設(shè)計和使用程序，銷售環(huán)節(jié)也應(yīng)該對這個程序的正確執(zhí)行盡到自己的信息傳遞責任。

閱讀過本文的用戶還對以下文章感興趣：
涂鍍層測厚儀原理
渦流涂層測厚技術(shù)的基本原理和標準
涂層測厚儀操作方法